～ 開発経緯及び概要 ～

受託開発していた産業用検査装置等の回路設計において、回路基板や部品の高速化、微細化等によりプロービングの難易度が高まっており、この問題を解決するために社内及び委託先用として開発を開始しました。
当初の試作ではマグネットスタンドのような固定アームの先端にプローブを強力なクリップで固定して、基板に押し当てていましたが、以下のような問題がありました。

1. ターゲットにプロービングを接触させてもスタンドの関節部を固定する時にプローブ先がずれてしまい、微小なターゲットに正確にプロービングするのが困難
2. ようやく接触させても基板への安定した接触を維持するのが難しく、わずかな振動などで外れたり、測定が不安定となる
3. プローブの形状や大きさがメーカーやタイプによって様々で、汎用的に安定してプローブを固定することが難しい
4. プローブの数と同数の固定アームが必要となり、小さな基板の測定であるにも関わらず机上をスタンドのベース部分が占有してしまう

そこで、これらの問題を解決するべく、様々な検討を経て、重力をプローブ接触圧に利用する　”２Dタイプ　プローブポジショナ（ミコプローブ）”の構造に辿り着くことができました。試作を評価した取引先からも非常に好評だったこともあり、一般企業、大学等への販売を開始いたしました。

２Dタイプ　プローブポジショナ販売後、「平置き基板」だけでなくラックに入った基板や組込まれた状態の基板への要望も販売先より寄せられたため、”３D タイプポジショナ”の開発・設計にも着手。

３Dタイプの課題であった

1. ターゲットへの微調整が行いにくい。
2. 接触圧が確保しにくく、プロービングが安定しない。

等の問題を”２Dタイプの構造を取り入れた独自のアーム構成”や”長ストロークのスプリング構造を持つ先端構造”を開発するなどし、垂直基板に対しても非常に安定した接触維持性能を実現した３Dタイプポジショナを開発しました。