使用手順

特長

• わずか数秒程度の簡単なリフト＆ドロップ操作で、測定対象への非常に安定したプロービングが可能です。
• 付属している専用ルーペをセットすることで、常にプローブ先端付近を拡大することができ、微細な測定対象へのプロービングを可能にします。
• 専用に設計された、細軸（Φ0.6）の硬質金メッキプローブを介しての信号取り込みになります。オシロスコープやテスターのプローブよりも細軸（Φ0.6）であるため、微小な部品へのプロービングが可能です。

※針先のプローブは御要望により市販のテスター用プローブや半導体用プローブ等に変更することが可能です。詳細につきましては御問合せ下さい。

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  付属ルーペのフォーカスを針先に合わせることで、より精密な作業が可能となります。
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  リード線の半田付けやICクリップでは不可能に近い、挟ピッチICの連続したピンからの信号取り出しも可能となります

仕様及び機種

※アーム長(L)はアームを最大限伸ばした時のベース中央からの長さです。
測定可能な範囲はPA-400の場合、約半径400ｍ以内となります。

※2アームタイプには2本のアームがセットされています。
2本のアームは、操作性を考慮して長さの異なるアームが２本セットされています。
例えば、PA-400Wの場合には　Ｌ=400　及び　L=320　がセットされています。
これにより各々のアームは干渉することなく、独立した操作が可能です。

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